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型号:

PARAM博每 测厚仪【产品编号】CHY-C2

产品简介:CHY-C2 测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,保证了测试的规范性和准确性。

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2025-08-03
  • 浏览次数

    1796
详细介绍

【产品名称】PARAM博每 测厚仪

【产品编号】CHY-C2

【产品描述】

 专业:

CHY-C2 测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,保证了测试的规范性和准确性。

严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。

测试过程中测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差。

支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。

系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。

系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。

配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据*性。

实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。

标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输。

支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。

测试标准:

该设备满足多项国家和标准:ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。

测试应用:

基础应用:

薄膜薄片:适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试。

纸张:适用于纸张、纸板的厚度测试。

固体电绝缘体:适用于固体电绝缘体的厚度测试。

纺织、无纺布材料:适用于纺织材料的厚度测试。

箔片、硅片、金属片:适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试。

扩展应用:

量程扩展至5,10mm:适用于测试薄膜、片材的厚度。

测量头为曲面:满足场合的厚度测试。

技术指标:

指标

参数

分辨率

0.1 μm

测量速度

10 /min (可调)

测试压力

17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

负荷量程

02 mm(常规)

06 mm12 mm(可选)

接触面积

50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

外形尺寸

300 mm(L)× 275 mm(W)× 300mm(H)

电源

AC 220V 50Hz

净重

33kg

产品配置:

标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件。

选购件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码。

 

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